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日本bluevision鹵素燈光源檢測異物污染劃痕 BVM1022D/BVM1021D 可變波長光源是一種以鹵素燈為主光源，通過選擇輸出波長即可發(fā)光的新型光源。本產(chǎn)品使用LVF（線性可變?yōu)V光片）進行波長選擇。

Adwill-Global全自動紫外線照射機高性能 RAD-2010F/12 設計緊湊且高效率 上料平臺&下料平臺一體化，適用于300mm、200mm晶圓。一體化可實現(xiàn)設備尺寸的緊湊化，通過設計兩條工作線路實現(xiàn)高產(chǎn)能。

日本KYORITSU照度計高精度測量高性能進口 KYORITSU/日本共立 KEW 5204 / 5204BT ?配備Bluetooth®通信功能 ?兼容KEW Smart Advanced ?符合JIS C 1609-1:2006通用標準的數(shù)字照度計 ?測量范圍寬廣，從0.1到199900 lx ?配備自動調(diào)零功能，可實現(xiàn)高精度照度能夠測量 - 能夠測量 LED 照度

日本techvision UV照射裝置固化系統(tǒng)LED燈源 UVC-200A/300A 這種UV固化系統(tǒng)便于UV曝光后剝離UV膠帶。膠帶是用于研削中的表面保護和晶片處理工序中膠帶的切割的UV膠帶。 UV-LED固化系統(tǒng)使用波長為365納米的LED（發(fā)光二極管）光源進行UV曝光。LED提供了許多性能優(yōu)勢。

山田光學YAMADA半導體用鹵素光源照明裝置 YAMADA/日本 YP-150I/YP-250I 高亮度鹵素光源裝置在半導體芯片及液晶基板加工 是宏観観察用的照明設備，可検測各種缺陥如半導體晶片及液晶基板加工中最費人工的成形製品表面的異物、刮痕、拋光不均、霧狀、劃傷等。 用于檢測各種缺陷的宏觀觀察用照明裝置檢查燈。

YAMADA高亮度鹵素光源用于檢測各種缺陷照明 YAMADA/日本 YP-150I/YP-250I 高亮度鹵素光源裝置在半導體芯片及液晶基板加工 是宏観観察用的照明設備，可検測各種缺陥如半導體晶片及液晶基板加工中最費人工的成形製品表面的異物、刮痕、拋光不均、霧狀、劃傷等。 用于檢測各種缺陷的宏觀觀察用照明裝置檢查燈。

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日本進口yamada鹵素燈光源裝置精密檢測 YAMADA/日本 YP-150I/YP-250I 高亮度鹵素光源裝置在半導體芯片及液晶基板加工途中 人工懸掛最終成品表面的異物、劃痕、研磨不均、霧、滑動等 用于檢測各種缺陷的宏觀觀察用照明裝置。