日本mitaka非接觸三維輪廓高精度測量裝置 MLP系列 特點介紹

MLP-3 專門從事傳統(tǒng)坐標測量機、投影儀和激光顯微鏡無法實現(xiàn)的復雜測量。點自動對焦探頭和每個軸的控制（包括旋轉(zhuǎn)）解決了困擾測量人員的問題。

不受表面顏色/反射率影響的高精度測量

可以直接測量從表面反射率僅為 0.5% 的鍍膜玻璃到反射率達到 90% 或更高的鏡面。

從各個方向都可以接近

根據(jù)工件從最佳方向接近，高精度定量測量截面和三維形狀

可觀察測量點

內(nèi)置攝像頭可以讓您持續(xù)觀察測量點處的激光光斑和工件表面，從而可以準確掌握測量位置并進行測量。

粗糙度測量與國際標準高度相關

點自動對焦式與觸針式粗糙度測量具有較高的相關性，可以獲得高度可靠的數(shù)據(jù)。

日本mitaka非接觸三維輪廓高精度測量裝置 MLP系列 規(guī)格參數(shù)

使用MLP-3，可以以亞微米精度測量整個工件的內(nèi)周和外周。

通過使用內(nèi)徑測量單元（另售），

可以評估內(nèi)周和外周之間的配合，并使用標準評估軟件“MITAKA MAP"評估與DXF數(shù)據(jù)的差異。

您不僅可以評估整個刀具的形狀，還可以使用 MLP-3 對切削刃進行詳細測量。

通過使用立銑刀測量輔助軟件（另售）自動檢測切削刃和刀尖，

可以通過簡單的操作進行測量，并且可以最大限度地減少由于測量位置差異而導致的值變化。