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日本理研rikenkeiki測量裝置有機電子材料用FAC-2介紹：專用于光刻樣品的開爾文探針輕松設置樣品，無需微調電極和樣品之間的距離可在大氣中測量半導體樣品的費米能級由于測量時間短，因此非常適合測量隨時間變化的情況，例如成膜或表面處理后金屬表面的變化
產品型號：FAC-2廠商性質：經銷商更新時間：2024-10-11訪 問 量：186
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日本理研rikenkeiki測量裝置有機電子材料用FAC-2特點介紹：
專用于光刻樣品的開爾文探針
輕松設置樣品，無需微調電極和樣品之間的距離
可在大氣中測量半導體樣品的費米能級
由于測量時間短，因此非常適合測量隨時間變化的情況，例如成膜或表面處理后金屬表面的變化
日本理研rikenkeiki測量裝置有機電子材料用FAC-2規(guī)格參數：
有機電子材料的費米能級測量
金屬和導電薄膜功函數的測量
有機EL和復制感光材料的電離勢測量
硬盤和磁帶摩擦學研究
半導體和引線框架表面氧化態(tài)的測量
精密電子材料中分子級薄膜污染檢測
產品分類：開爾文探針
模型：FAC-2
測量原理：開爾文法
測量零件尺寸：Φ10mm
測量能量范圍：3.4至6.2eV（使用功函數為5.0eV的參考樣品進行校準時）
測量時間：10秒或更短（如果樣品是金屬）
重復性（標準差）：功函數0.02eV（樣品：金板）
溫濕度范圍：溫度范圍15-35℃，濕度20-60%RH
電源：AC100V，50/60Hz 5A（最大）
外形尺寸：約235（寬）×330毫米（高）×408（深）毫米
重量：約12公斤
郵箱：akiyama_zhou@163.com
傳真：
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